质谱仪安捷伦Agilent 8900 串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行业中成功且应用广泛的串联电感耦合等离子体质谱仪。安捷伦Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置，适合从常规商业分析到高级研究和高纯度材料分析的应用，其重新定义了 ICP-MS 性能，可提供可靠的分析结果。 安捷伦串联四极杆电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS 8900 系统具有与安捷伦市场领先的单四极杆 ICP-MS 系统相同的基质耐受性和稳定性，并与超高效的氦 (He) 碰撞模式相结合。但 8900 系统增加了串联质谱操作 (ICP-MS/MS)，可对碰撞反应池 (CRC) 中的反应化学过程进行精确的控制，使其成为强大、灵活的多元素分析仪。利用 8900 ICP-MS/MS 控制干扰，让您的结果可靠无疑。
特性
串联四极杆 ICP-MS 是一种用于元素分析的串联质谱仪 (MS/MS)。ICP-MS/MS 在碰撞/反应池 (CRC) 前增加了一个额外的四极杆质量过滤器 (Q1)，因此质谱干扰问题可以通过反应池气体和氦气 (He) 碰撞模式得到解决。为了在单位 (1 u) 质量分辨率下实现高离子传输效率，ICP-MS/MS 的两个四极杆都必须在高真空条件下运行。ICP-MS/MS 尤其适用于那些采用单四极杆 ICP-MS 无法实现成功分析的高级应用。
ICP-MS/MS 使用两个四极杆质量过滤器对离子进行两次过滤，Q1 位于 CRC 之前，Q2 位于 CRC 之后。双重质量过滤 (MS/MS) 能够控制 CRC 中用于解决质谱重叠干扰的反应过程。Q1 剔除目标分析物质量以外的所有离子，因此只有分析物离子和相同质量的干扰物能够进入 CRC。反应池气体将分析物离子与重叠离子分离，且不存在单四极杆 ICP-MS 中可能发生的其他元素或同位素形成新的重叠产物离子的风险。
ICP-MS/MS 适用于那些采用单四极杆 ICP-MS 无法实现理想分析的高要求应用。这些应用可能需要极低的检测限，例如，检测半导体制程化学品和高纯度材料中的超痕量污染物或检测极小的纳米颗粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量异位素干扰、双电荷离子干扰、相邻质量数重叠干扰以及高强度的多原子干扰。这种能力使它可以分析低浓度的非常规分析物，如 Si、P、S、Cl，甚至是 F。
串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的应用
ICP-MS/MS 为半导体和材料行业提供了更低的检测限和更出色的干扰控制。领先制造商使用 8900 确保其高纯度工艺化学品和材料的质量。 超高灵敏度、超低背景以及极短的 0.1 ms 驻留时间可确保准确检测出最小纳米颗粒 (NP)。MS/MS 可控制 Si 和 Ti 的干扰，从而实现 SiO2 和 TiO2 NP 的低浓度分析。
MS/MS 控制碰撞/反应池中的化学反应，使研究人员能够分离阻碍地球化学测量的同质异位素重叠。8900 可分离 204Hg 与 204Pb、87Rb 与 87Sr 以及 176Lu 与 176Hf 等重叠，实现准确的地质年代学同位素比值分析。 MS/MS 还可分离用于核研究和核退役测量的放射性核素的直接重叠，提高丰度灵敏度，分离峰拖尾重叠（如 238U 与 237Np）。
安捷伦 ICP-MS/MS 仪器可以分离先前难以分析的元素（如 Cl、P 和 S）的光谱重叠，彻底颠覆了生命科学研究。使研究人员能够对蛋白质和肽直接进行基于 S 和 P 杂元素的单独化合物定量分析。 新型测量的执行能力开辟了药物开发、临床研究和毒液组学等全新的研究领域。
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